在 4 月 23 日举行的维也纳地区冷冻电镜研讨会上，TESCAN 生命科学产品区域市场专家 Kathrin Rudolph 博士展示了一项合作研究的引人注目的成果，该研究题为：“结合光、电子和软 X 射线显微镜的冷冻工作流程可实现未标记特征的靶向。”

Kathrin 的演讲强调了 软 X 射线显微镜 (SXM) 如何在先进的冷冻成像工作流程中成为一种强大的预筛选工具。通过对厚度达 10 微米的冷冻保存组织或细胞样本进行成像，SXM 能够在下游冷冻 FIB 切片之前，实现对感兴趣区域的无标记识别。这些靶向区域随后可以分离成约 150 纳米的薄片，用于超高分辨率冷冻透射电镜分析。

这种新型 CLEXM 工作流程（关联光、电子和 X 射线显微镜） 相较于传统 CLEM 工作流程，具有多项优势：

• 超微结构特征的无标记靶向，保持固有对比度。
• 更快、更精确地 识别亚细胞感兴趣区域。
• 无损成像，保持样本完整的 3D 结构背景。
• 跨模态无缝关联，以实现更丰富的生物学解释。

这种方法对致力于复杂生物系统研究的研究人员来说前景广阔，在这些系统中，理解纳米级结构及其完整的体积背景至关重要！

衷心感谢整个合作团队 – Kathrin Rudolph、Martina Zanova、Martin Uher、Samuel Záchej、Dominik Pinkas、Andreas Walter、Jan Groen 和 Anna Sartori-Rupp – 感谢他们推动了冷冻关联成像的边界！

查看我们的图片库，了解更多关于软 X 射线断层扫描的强大功能！